一、靜態(tài)測量
1. 正向壓降測量
正向壓降是肖特基二極管的重要特性之一。使用數字萬用表測量二極管在正向偏置下的壓降，可以判斷其是否符合規(guī)格。測量方法如下：
將萬用表設置為二極管測量模式。
將紅表筆接二極管的陽極，黑表筆接陰極。
讀取顯示的電壓值。肖特基二極管的正向壓降通常在0.2V到0.4V之間，高于或低于此范圍可能表明二極管損壞或規(guī)格不符。
2. 反向漏電流測量
反向漏電流是衡量肖特基二極管反向特性的重要參數。通過以下步驟測量反向漏電流：
將萬用表設置為電流測量模式。
將萬用表的紅表筆接二極管的陰極，黑表筆接陽極。
在反向偏置下施加一定電壓，通常為二極管的最大反向工作電壓。
讀取萬用表上的漏電流值。正常情況下，肖特基二極管的反向漏電流應很小，若漏電流過大，可能表明二極管已損壞。
二、動態(tài)測量
1. 開關特性測試
肖特基二極管因其快速開關特性而著稱，測試其開關特性可以通過示波器和函數發(fā)生器實現：
使用函數發(fā)生器產生一個方波信號，頻率設置為1MHz左右。
將方波信號輸入到肖特基二極管的陽極，并通過負載電阻接地。
使用示波器探頭測量二極管兩端的電壓波形。
觀察波形的上升和下降時間。肖特基二極管的上升和下降時間應非常短，通常在納秒級別。若時間過長，可能表明二極管存在問題。
2. 開關損耗測量
開關損耗是衡量肖特基二極管性能的重要參數之一，通常通過功率分析儀和示波器測量：
連接功率分析儀和示波器，測量二極管在不同頻率和電壓條件下的開關損耗。
分析測量結果，開關損耗應較小，若損耗較大，可能影響電路的整體效率。
三、高頻特性測試
肖特基二極管廣泛應用于高頻電路中，因此其高頻特性測試尤為重要。以下是幾種常見的高頻特性測試方法：
1. S參數測量
S參數（散射參數）是表征肖特基二極管高頻特性的關鍵參數。使用矢量網絡分析儀（VNA）可以測量S參數：
連接矢量網絡分析儀，將待測肖特基二極管連接到測試端口。
設置頻率范圍，通常在1GHz以上。
測量并記錄S11和S21參數。S11表示輸入反射系數，S21表示傳輸系數。
分析S參數，判斷肖特基二極管在高頻下的性能。
2. 阻抗頻率特性測量
阻抗頻率特性測量用于評估肖特基二極管在高頻下的阻抗變化情況：
使用阻抗分析儀，連接待測肖特基二極管。
掃描頻率范圍，記錄阻抗隨頻率的變化。
分析結果，確保二極管在高頻下的阻抗特性符合設計要求。
肖特基二極管的檢查方法多種多樣，涵蓋靜態(tài)測量、動態(tài)測量和高頻特性測試。通過全面的檢查，可以確保肖特基二極管在實際應用中的可靠性和性能表現。
